其（qí）結構和工作原理與磁電係電（diàn）表基本相同（tóng）。作為檢流計，要求有較高（gāo）的（de）靈敏度，主要是電壓靈（líng）敏（mǐn）度和電流靈敏度（dù）。為提高電流靈（líng）敏度，通常要增（zēng）加（jiā）轉動力矩，例如加強磁場和增加動圈匝（zā）數。但限於氣隙尺寸，須用很細的導線（xiàn）繞製動圈，因此電流靈敏度高的檢流計的動圈電阻(內阻)較高。此外，要降低反抗（kàng）力矩，可采用力矩很弱的拉絲（或懸絲）將動圈安置在長久磁鐵的氣隙中（zhōng）。為此，檢流計使用時（shí）要保持水平位（wèi）置。檢流計動圈沒有金屬框（kuàng）架，阻尼力矩由動圈本身提供,動圈在氣隙磁場中運動時,切割磁通（tōng）而（ér）產生電動（dòng）勢，此電動勢引起的流過動圈和外（wài）電路的電流，在檢流計中又與磁場作用產生（shēng）阻尼力矩。因此，外電路的結構要影響檢（jiǎn）流計阻尼的強（qiáng）弱。若使檢流計指示迅速達到穩定，應令其工作（zuò）在稍欠阻尼狀態。磁電係檢（jiǎn）流計是很精細的電表，不使用時，須將兩端短路，這（zhè）時阻（zǔ）尼*強，可保護檢流計可動部分少受（shòu）損害。
光電放大式檢（jiǎn）流計刻度盤上的刻度分格是均勻的（de），零點標在度盤中心。動圈左右偏轉，都可讀數。刻度（dù）上雖然標有數值，隻是表示分格數；用於測電流、電壓時，要另行標定刻度分格所代表的準確數值。 磁電係檢（jiǎn）流計的電流靈敏度以電流常數（電流靈敏度（dù）與電流常數互為倒數）表示，可達10-9安/分格或更高，內阻達幾千（qiān）歐。用檢（jiǎn）流計測微弱電壓時，要求有較高的電壓靈敏度。因檢流計測量的基（jī）本量是電流（liú），如要求在一定（dìng）的被測電壓（yā）下能有較大的電流通過檢流計（jì），則希望檢流（liú）計有較低（dī）內阻，但此時電流的靈敏度降低。因此，電（diàn）壓靈敏度高的檢流計,其電（diàn）流靈敏（mǐn）度要低些（例如10-7安/分格）。 為使用方便，可將磁電係檢流計做成（chéng）便攜（xié）式，動（dòng）圈用張絲拉緊，並采用光線多（duō）次反（fǎn）射以提（tí）高靈敏度（dù）。 光電放大（dà）式檢流計 將光電放大器與兩個磁電係檢流計結（jié）合在一起即構成圖2所示的光（guāng）電放大式檢流（liú）計（jì）。初級檢流計接在被測回路中，它的小鏡將光（guāng）線反射到差分光電池上。兩（liǎng）光電池的輸出電流之差流（liú）入次級檢流計G2。如此（cǐ）可獲（huò）得（dé）較強（qiáng）的信號。為使檢流計工作穩定，通常采用負反饋線路。
光電放大式檢流計（jì）衝擊檢流計
測短暫脈衝電流所含電荷量的磁電係檢流計。其可動（dòng）部分具有（yǒu）較大慣量。為保證（zhèng）測量準確度，理（lǐ）論上要求在短暫脈衝電流通過檢流計時，可動部分應靜（jìng）止不動；短暫脈衝消失後，可動（dòng）部分或單方向（xiàng），或以刻度零（líng）點為中心（xīn）作衰減擺動。不論哪種情況，取*大偏轉或擺（bǎi）動的**次*大值αm來表示電荷量Q的大小，即αm=SqQ,Sq是衝擊檢流計（jì）的衝擊靈敏度。可通過接入（rù）光電（diàn）放大器來提高（gāo）衝（chōng）擊檢流計的Sq。普通磁電係檢流計（jì）也可用以測電荷量，但其可動部分的慣量不夠大，會產生測量誤差。
光電放大式檢流計振子
光電放大式檢流計可動部分的質量（liàng）和慣量都很小的（de）磁電係檢流計測量機構。由張絲支承的可動（dòng）部分裝（zhuāng）在圓柱形（xíng）框架中，並罩以外套管（guǎn），內充矽（guī）油，以實現阻尼（ní）作用。外套管上（shàng）有一透鏡窗口，光線通過（guò）它聚焦到（dào）可動部分的反射小鏡上。振子能跟隨快速變化量動作,可反映10000赫以下交變量的變化情況。主要用於光線示波器中。