影響變頻伏安特性綜合測試儀的因素與解決方法，既要掌握儀器性能，也需了解測試條件。使用磁性原理和渦流原理的覆層測厚儀都是基於被測基體的（de）電、磁特性及與探頭的距離來測量覆層厚度的，所以，被測基體（tǐ）的電磁物（wù）理特性與（yǔ）物理尺（chǐ）寸都要影響磁通與電渦流的大小。即影響到測量值的可靠性，下麵就這方麵的問題作一下介（jiè）紹。
1.邊界間距如（rú）果探頭與被測體邊界（jiè）、孔眼、空腔、其他截麵變化處的間距小於規定的邊界間距，由於磁通或渦流載體截麵不夠將導致測（cè）量誤（wù）差。如必須測量該點的覆層厚（hòu）度，隻有預先在相（xiàng）同條件的無覆層表麵進行校準，才能（néng）測量。（注：*新的產品有透（tòu）過覆層（céng）校準的獨特功能可達3～10％的精度）
2.基體表麵曲率在一個平直的對比試樣上校準好一個初始值，然後（hòu）在測量覆層厚度後減去這個初始值。或參（cān）照下條。
3.基（jī）體金屬*小厚（hòu）度基體金屬必須有一個給（gěi）定的*小厚度（dù），使探頭的（de）電磁場能完全包容在基體金屬中，*小厚度與測量器的性能及金屬基體（tǐ）的性質有關，在這個厚度之上剛好可以進行測量而（ér）不用對測量值修正。對於基體厚度不夠而產生的影響，可以采取在基材下麵緊貼一塊相同材料的措施予以消除。如難以決（jué）斷，或無法加基材則（zé）可以（yǐ）通（tōng）過與已（yǐ）知覆層厚度的試樣（yàng）進行對（duì）比來（lái）確定與額定值的差值。並且在測量中考慮這點而對（duì）測（cè）量（liàng）值（zhí）作相應的修正或參考第2條修正。而那些可以標定的儀器通過調整旋鈕或按鍵，便可以得到準確的直讀厚度值（zhí）。反之（zhī）利用厚度太小產生的影響又可（kě）以研製直接測銅箔厚度的測厚儀，如前所述。
4.表麵粗糙度和表麵清潔度在粗糙度表麵上為（wéi）獲得一個有代表性的平均測量值必須進行（háng）多次測量才行。顯而易見，不論是基體或是覆層，越粗糙，測（cè）量值越不可靠。為獲得可靠的數據，基體的平均粗糙度Ra應小於覆層厚度（dù）的5％。而對於表麵雜質，則應予去除（chú）。有的儀表上下限，以剔（tī）除那些“飛點”。
5.探頭測量板的作用力探（tàn）頭測（cè）量時的作用力應是恒定的。並應盡可能小。才不致（zhì）使軟的覆層發（fā）生形變，以致測量值下降。活產生大的波動（dòng），必要時，可在兩者之間墊一層硬的，不（bú）導電的，具有一定厚度的（de）硬性薄膜。這樣通過減（jiǎn）去薄膜厚度就能適當地得到剩磁。
6.外界（jiè）恒磁場、電磁場和基體剩磁應該避免在有幹擾作用的外界磁場附近進行測量。殘存的剩磁，根據（jù）檢測器的性能可能導致或多或少（shǎo）的測量誤（wù）差，但是如結構鋼，深衝（chōng）成形鋼板等一般不會出現上述現象。
7.覆層材料中的鐵磁成份和導電成份覆層中存在某些（xiē）鐵磁成分，如某種顏料時，會對測量值產生影響，在這種情（qíng）況（kuàng）下，對用作校準的對比試樣覆層應具（jù）有與被測物覆層相同的電磁特性，經校準後使用。使用的方法可以是將同樣的覆層塗在鋁或銅板試樣上（shàng），用電渦流法測（cè）試後獲得對比標準試樣。